現(xiàn)代制造工藝日趨精密復雜，推動鑄件尺寸向大型化、整體化不斷演進。傳統(tǒng)檢測手段已難以滿足靈活高效的現(xiàn)代化生產(chǎn)需求。蔡司延續(xù)BOSELLO系列產(chǎn)品的技術理念，推出新一代大型部件自動化X射線檢測設備ZEISS OMNIA GC 220-180，專為應對未來制造挑戰(zhàn)而設計，致力于為大型乃至超大型組件提供更先進、更可靠的檢測方案。

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專為大型部件檢測設計

ZEISS OMNIA GC專為汽車等行業(yè)大型鑄件檢測打造，搭載高品質(zhì)X射線與精密工程系統(tǒng)，即便面對超大型部件，也能在效率、準確性與成像之間實現(xiàn)完美平衡。其智能設計實現(xiàn)復雜特征掃描全覆蓋，在維持高準確性的同時大幅縮短檢測時間。

單門或雙門解決方案
適配多樣化需求

ZEISS OMNIA GC提供高度靈活的配置方案，精準匹配不同產(chǎn)能需求。單門系統(tǒng)可無縫集成至現(xiàn)有生產(chǎn)線中，適用于中低產(chǎn)能連續(xù)任務的在線或線邊檢測場景。產(chǎn)能爬升時，可升級為高產(chǎn)能雙門系統(tǒng)，通過多托盤并行操作，實現(xiàn)裝卸與檢測同步的快速在線自動化解決方案，助力制造商靈活配置資源，高效應對未來挑戰(zhàn)。

多角度檢測的笛卡爾
坐標軸設計

蔡司X射線檢測系統(tǒng)通過高精度笛卡爾機械臂的平滑的線性運動實現(xiàn)部件關鍵區(qū)域的全方位成像，可精準完成傾斜、變焦及定位操作，確保系統(tǒng)能夠觸及復雜鑄件中最具挑戰(zhàn)性的檢測區(qū)域。配備±60°檢測傾角的X射線光束及最高15米/分鐘的運動速度，ZEISS OMNIA GC可從任意角度快速、靈活且無碰撞地執(zhí)行檢測任務。

ADR（自動缺陷識別）

ZEISS OMNIA GC配備先進的ADR（自動缺陷識別）功能，可實現(xiàn)完全自動化的檢測與缺陷評估，可根據(jù)ASTM標準對氣孔、夾雜物或裂紋等缺陷進行自動檢測與評估。

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